| Etablissement | Université d'Oran1 - Ahmed Ben Bella | | Affiliation | Département de Physique | | Auteur | ADDA, Habib | | Directeur de thèse | Bouizem Yahya (Professeur) | | Filière | Science des matériaux | | Diplôme | Magister | | Titre | Dépôt et caractérisation optique du silicium nanocristallin | | Mots clés | Silicium nanocristallin, transmission optique, ellipsométrie, spectroscopie infrarouge | | Résumé | Des couches minces de silicium nanocristallin sont déposées par pulvérisation cathodique radio fréquence dans une atmosphère d'argon et d'hydrogène dans différentes conditions de pression, de dilution et de températures.
Le matériau ainsi obtenu est caractérisé par différentes techniques, essentiellement optiques. Il s'agit d'élucider et de comprendre la corrélation pouvant exister entre ces conditions de dépôt et la structure du matériau | | Statut | Validé |
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