001023824
100  $a                         y50      
101  $afre
2001 $aCaractérisation des films sic et silicium poreux pour application aux capteurs$bressource électronique
210  $aUniversité de Tlemcen - Abou Bekr Belkaid : Département Génie électrique et electronique$cUniversité de Tlemcen - Abou Bekr Belkaid
328 1$bDoctorat$cElectronique$eDépartement Génie électrique et electronique , Université de Tlemcen - Abou Bekr Belkaid
700  $aKERAI, salim
701  $aArray
801 0$aDZ$bCERIST PNST
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