001019944
100  $a                         y50      
101  $afre
2001 $aCaractérisation de transistors MAS à dimensions critiques par les techniques avancées: application aux MOSFETS submicroniques et UTOMOS.$bressource électronique
210  $aUniversité Blida1- Saad Dahlab : Département Electronique$cUniversité Blida1- Saad Dahlab
328 1$bMagister$cElectronique$eDépartement Electronique , Université Blida1- Saad Dahlab
700  $aHANED, fadhila
701  $aArray
801 0$aDZ$bCERIST PNST
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