001016816
100  $a                         y50      
101  $afre
2001 $aContribution à l'étude de l'influence des couches barriéres sur le phénoméne de diffusion à l'interface Métal / Silicium pour des couches minces formées par évaporation par effet joule Cas du système CU/ SB/ Si $bressource électronique
210  $aUniversité de Sétif 1 - Ferhat Abbas : Département de Physique$cUniversité de Sétif 1 - Ferhat Abbas
328 1$bMagister$cPhysique$eDépartement de Physique , Université de Sétif 1 - Ferhat Abbas
700  $aREFFAS, mounir
701  $aArray
801 0$aDZ$bCERIST PNST
901$ac