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EtablissementUniversité d'Oran1 - Ahmed Ben Bella
AffiliationDépartement de Physique
AuteurBenelhadj, Djelloul Sofiane
Directeur de thèseBouizem Yahya
FilièrePhysique
DiplômeDoctorat
TitreEtude de la structure du silicium nanocristallin déposé par pulvérisation cathodique RF magnétron.
Mots clésle nc-si, l'ellipsomètre, l'infrarouge, ramon.
RésuméDepuis qu'il a été montré que le nc-si:H était moins sensible à l'eefet staebler-wronski, et qu'il présentait une meilleure conductivité sous obscurité que le a-si:H, ce matériau a suscité un vif intérêt de la part de la communauté scientifique mondiale. Notre tâche dans ce travail de thèse se résume à préparer des échantillons intrinséques et dopés par pulvérisation catholique en faisant varier systématiquement les paramètres de plasma, et à étudier leurs caractéristiques structurales par des mesures essentiellement optiques afin de pouvoir les adapter d'une façon optimale aux exigences selon les application.
StatutVérifié
format unimarc