| Etablissement | Université d'Oran1 - Ahmed Ben Bella | | Affiliation | Département de Physique | | Auteur | Benelhadj, Djelloul Sofiane | | Directeur de thèse | Bouizem Yahya | | Filière | Physique | | Diplôme | Doctorat | | Titre | Etude de la structure du silicium nanocristallin déposé par pulvérisation cathodique RF magnétron. | | Mots clés | le nc-si, l'ellipsomètre, l'infrarouge, ramon. | | Résumé | Depuis qu'il a été montré que le nc-si:H était moins sensible à l'eefet staebler-wronski, et qu'il présentait une meilleure conductivité sous obscurité que le a-si:H, ce matériau a suscité un vif intérêt de la part de la communauté scientifique mondiale. Notre tâche dans ce travail de thèse se résume à préparer des échantillons intrinséques et dopés par pulvérisation catholique en faisant varier systématiquement les paramètres de plasma, et à étudier leurs caractéristiques structurales par des mesures essentiellement optiques afin de pouvoir les adapter d'une façon optimale aux exigences selon les application. | | Statut | Vérifié |
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